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積分球作為一種光學儀器，近一百年來被廣泛應用于光度測量和輻射測量中。在許多應用中，積分球通常被用作測試CCD或CMOS等焦面陣列光電器件的均勻輻射光源。然而，由于積分球實際的制造安裝、內(nèi)部擋屏的幾何位置、漫反射涂層的實際厚度和內(nèi)部光源的幾何位置等因素的影響，造成實際的積分球輻射光源開口處的照度均勻性并不理想。

另一方面，在航空和天文等領域中使用的科學級別CCD經(jīng)常需要在較低的溫度下工作。如果在積分球上進行器件測試，積分球內(nèi)部光源的熱量對器件的影響就不能忽略。因此，按照理想情況下在積分球光源出口處對光電器件進行測試是不合適的。